E4 固體徑跡蝕刻測量系統 - 卡迪諾科技（北京）有限公司

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E41 RADOSYS固體徑跡自動測量系統

E41 RADOSYS固體徑跡自動測量系統

來源:

發布時間: 2018 - 01 - 31

Radosys 固體徑跡自動測量系統對重帶電離子在固體徑跡核探測器產生的徑跡進行自動識別計數，主要用于對氡、α粒子、質子、高能宇宙射線和中子的徑跡參數的測量。全自動徑跡計數測量、全自動徑跡參數( 面積、周長、圓度、長短軸、入射角及深度) 測量，可測量徑跡的深度，標記徑跡的絕對位置。具有自動聚焦、結果打印與管理功能。

E42 NanoReader 手動固體徑跡測量系統

E42 NanoReader 手動固體徑跡測量系統

來源:

發布時間: 2018 - 03 - 16

NanoReader 手動徑跡分析單元NanoReader 手動徑跡分析單元，適用于小批量元件測讀工作。讀取速度快，測量結果可靠，占用面積小。RADUET 氡釷甄別探測器由日本NIRS 與Radosys 共同開發的RADUET 氡釷甄別探測器，可同時聯合測量氡釷活度。包含兩個探測器，可使用標準RSF 探測器或其改進版本以減少響應時間。主測量室對氡靈敏，副測量室對氡和釷均靈敏。通過簡單的線性計算可分別得出氡釷活度。

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